МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ И ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ 

В ЦКП ОАО «ВТИ» проводятся работы по исследованию иструктуры металлов , включающие в себя комплекс пробоподготовки и анализ структуры при помощи оптической и электронной микроскопии. 

Пробоподготовка

• Включает в себя комплекс операций для приготовления шлифов исследуемого металла для последующего анализа. Основные операции пробоподготовки это разрезка металла, запрессовка металла в компаунд, шлифовка и полировка образцов, очистка ультразвуком, а также электролитическое и химическое травление металла. 
• Пробоподготовка ведется на современном оборудовании с высокой степенью автоматизации, что позволяет повысить качество предоставляемых образцов вместе с тем сократив временные затраты на их изготовление. 
• Оборудование позволяет проводить резку, шлифовку, полировку и травление материалов различной твердости, а также образцов самой сложной геометрической формы и размеров.

Разрезка и приготовление шлифов

Исследование структуры

 Исследование структуры и изломов металлов производится на металлографических комплексах, базирующихся на оптическихи электронном микроскопах, а также стереомикроскопе. Металлографические комплексы, оснащенные программным обеспечением, позволяют проводить анализ структуры: определение балла зерна, загрязненность неметаллическими включениями, определение процентного содержания вторичной фазы, определение основных геометрических размеров объекта, сшивка и панорамное изображение нескольких полей зрения, статистическая обработка данных, обработка изображений с возможностью 3D моделирования.

Оптический инвертированный микроскоп Leica с аналитической системой SiamsPhotolab
Автоматическая сшивка изображения
Люминесцентный стереомикроскоп CarlZeissSteREO Lumar.V20 (Discovery) с аналитической системойVESTRA ImagingSystem

 Электронная микроскопия

Помимо оптической микроскопии для исследования микроструктуры металла и фрактографических исследованийиспользуется сканирующий электронный микроскоп, оснащенный приставкой для микрорентгеноспектрального анализахимического состава. Оснащение микроскопа специальным программным обеспечением и детекторами (детекторыSEи BSE) позволяетвыполнять сложные аналитические задачи по определению фазового состава, выявлению микроповреждаемости металла, а также определению причин его разрушения.

Электронный микроскоп TESCAN VEGA 3 LMН с системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа